適用行業(yè)：航空、航天、軍工、科研、質(zhì)檢、電工、電子、汽車、材料、化工、通訊、機(jī)械、家電、零部件、新能源

產(chǎn)品用途：二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測試設(shè)備， 用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

一、產(chǎn)品簡介：

兩箱式冷熱沖擊箱用于測試零部件承受溫度迅速變化之耐力，即適用于質(zhì)量控制的實(shí)驗(yàn)室又可滿足生產(chǎn)過程中篩選商用和軍用產(chǎn)品。

二、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫

GB/T2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化

GJB150.5-2009 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

GJB150.5A-2009  軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)

GJB360B-2009  電子及電氣元件試驗(yàn)方法

GB/T2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

兩槽冷熱沖擊試驗(yàn)箱（also known as Two-chamber Thermal Shock Test Chamber）是一種用于測試材料、產(chǎn)品或設(shè)備在極端溫度變化條件下的性能的試驗(yàn)設(shè)備。它由兩個(gè)測試槽組成，一個(gè)是高溫槽，另一個(gè)是低溫槽，兩個(gè)槽通過一個(gè)中央控制系統(tǒng)相互連接。

在測試過程中，樣品首先被置于高溫槽中，以使其達(dá)到高溫狀態(tài)。然后，將樣品迅速移動(dòng)到低溫槽中，以使其迅速降溫。這種快速的溫度變化可以模擬真實(shí)環(huán)境下材料、產(chǎn)品或設(shè)備所遭受的極端溫度變化，例如極寒地區(qū)的產(chǎn)品或高溫環(huán)境下的電子設(shè)備。

通過觀察樣品在溫度變化過程中的變化，例如形變、開裂、破裂等，可以評(píng)估其在極端環(huán)境下的耐久性和可靠性，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。

技術(shù)優(yōu)勢：

1、本實(shí)用新型兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱中，通過設(shè)置與熱箱、冷箱分別連通的試驗(yàn)箱用于放置待測樣品，并通過第一密封門、第二密封門控制試驗(yàn)箱與熱箱或冷箱的連通，實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)箱內(nèi)冷熱的快速交換，且熱箱與冷箱之間互不干擾；

2、在試驗(yàn)箱內(nèi)設(shè)置可上下移動(dòng)的置物臺(tái)，調(diào)整待測樣品在試驗(yàn)箱內(nèi)的位置，使待測樣品可更好的與冷源或熱源接觸，實(shí)現(xiàn)對(duì)待測樣品的冷熱測試；在置物臺(tái)的移動(dòng)過程中，通過豎向擋板實(shí)現(xiàn)對(duì)試驗(yàn)箱的封閉，減少進(jìn)行熱冷切換后的能量損失。